静态次临界系统α值的分析

• 作者: 叶涛 孙伟力 张本爱
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 静态次临界 MC软件 离散α本征值 中子衰减 参数监测
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 115-116
• 页数: 2页
• 分类号: TL375.17

摘要

为提高现有MC软件处理较深次临界度问题的能力，改进了‘虚产生’法对可调参数η的处理，并应用改进后的MC软件对静态次临界实验(981-2)数据作了理论分析，还同动态方法做了比较。这里所说“动态”方法，指通过MC方法直接模拟裂变系统内或泄漏中子数时间分布，用指数函数拟合源中子注人上升段后的数据的方法，相应的指数被认为是离散α本征值。在多个离散本征值中，原则上将数值最大的指数就是所谓衰减本征值，应同‘虚产生’法的结果一致，