作者:
原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
有效的布尔可满足性算法必然包括有效的数据结构.本文深入地分析了用于回溯搜索SAT算法的数据结构,指出了它们各自所具有的优势和不足.并将SAT应用于组合电路的测试生成中.根据应用的特点和在分析的基础上,设计并实现了一个主要是针对组合测试生成的SAT算法,初步的实验结果证明了它在测试生成应用中的有效性.
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文献信息
篇名 SAT数据结构与组合测试生成
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 算法 布尔可满足性 数据结构 测试生成
年,卷(期) 2003,(5) 所属期刊栏目 微电子技术
研究方向 页码范围 39-44,61
页数 7页 分类号 TP3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.05.012
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作者信息
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算法
布尔可满足性
数据结构
测试生成
研究起点
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期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
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0
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59060
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