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摘要:
扫描探针显微镜是用于测量材料表面不同性质的一类仪器.扫描探针显微镜在测量材料表面电学和磁学特性方面的测量技术发展较快.本文简要介绍了电场力显微镜、磁力显微镜的测量原理,着重对新发展的测量技术的原理及应用进行了描述.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 用扫描探针显微镜测量材料表面电学和磁学特性
来源期刊 实验技术与管理 学科 工学
关键词 扫描探针显微镜 电场力显微镜 磁力显微镜 测量技术
年,卷(期) 2003,(4) 所属期刊栏目 实验发展
研究方向 页码范围 13-17
页数 5页 分类号 TN16
字数 2417字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-4956.2003.04.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王秀凤 清华大学物理系 14 92 7.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
扫描探针显微镜
电场力显微镜
磁力显微镜
测量技术
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
实验技术与管理
月刊
1002-4956
11-2034/T
大16开
北京清华大学10号楼2层
1963
chi
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