扫描探针显微镜在材料表征的应用

• 作者: 褚宏祥
• 来源期刊: 曲阜师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 材料表征 SPM STM AFM NOSM
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 80-84
• 分类号: O434.14
• 字数: 5537字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5337.2010.02.015

摘要

作为一种广泛应用的表面表征工具,扫描探针显微镜(SPM)不仅可以表征三维形貌,还能定量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和近场扫描光学显微镜(SNOM)等方法, 以纳米材料为主要研究对象,展示了这几种技术在表征纳米材料的结构和性能方面的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	褚宏祥	曲阜师范大学物理工程学院	14	11	2.0	3.0