扫描探针显微镜在纳米材料表征中的应用

• 作者: 包生祥 戴林杉 曾慧中 李红霞 王志红 陈琨
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描探针显微镜 纳米材料 微结构 性能 表征
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 纳米测量技术与仪器(第一届全国纳米测量技术会议论文之一)
• 页码范围: 32-33
• 页数: 2页
• 分类号: TH742
• 字数: 802字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8892.2003.02.011

摘要

报道了扫描探针显微镜在纳米电子薄膜材料的形貌、晶界、晶粒形状与尺度、表面粗糙度和剖面分析中的具体应用实例,以及纳米磁性薄膜中的微磁畴、铁电材料的微电畴和半导体PN区像等电磁特殊性的可视分析应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	包生祥	电子科技大学纳米技术中心	52	181	7.0	10.0
2	王志红	电子科技大学纳米技术中心	25	96	6.0	8.0
3	曾慧中	电子科技大学纳米技术中心	15	50	4.0	6.0
4	李红霞	电子科技大学纳米技术中心	2	27	2.0	2.0
5	戴林杉	电子科技大学纳米技术中心	4	14	2.0	3.0
6	陈琨	电子科技大学纳米技术中心	3	14	2.0	3.0