缺血性脑损伤中原代培养神经元凋亡的观察

• 作者: 史庭慧 张旻 张苏明 杨渊 江红
• 来源期刊: 华中科技大学学报(医学版)
• 学科: 医学
• 关键词: 原代培养 神经元 细胞凋亡 脑缺血
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 282-285
• 页数: 4页
• 分类号: R743.31
• 字数: 3547字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3870/j.issn.1672-0741.2003.03.015

摘要

目的探讨原代培养的神经元在模拟缺血性脑损伤过程中细胞凋亡的发展规律和机制,并对不同的凋亡检测方法进行比较和评价.方法对Wistar大鼠大脑皮质神经元进行原代培养,运用流式细胞仪(FCM)、TUNEL等手段检测缺血性损伤各时间点的神经元凋亡以及Caspase-3在神经元中的表达.结果流式细胞仪与TUNEL检测均显示:在血清剥夺和缺氧后0.5 h、6 h神经元的凋亡率显著增高,Caspase-3表达阳性率亦随之增高.结论血清和氧剥夺早期由于神经元内的保护性基因反应性上调,抑制Caspase-3的激活及凋亡的进展,随着损伤时间的延长,抑制凋亡基因向促凋亡基因转换,导致神经元进一步凋亡.FCM与TUNEL二者相结合有助于更为准确地检测神经元凋亡.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张苏明	华中科技大学同济医学院附属同济医院神经科	315	1877	20.0	27.0
2	张旻	华中科技大学同济医学院附属同济医院神经科	44	219	8.0	13.0
3	江红	华中科技大学同济医学院附属同济医院神经科	9	64	4.0	7.0
4	史庭慧	华中科技大学同济医学院附属同济医院神经科	14	78	5.0	8.0
5	杨渊	华中科技大学同济医学院附属同济医院神经科	16	140	5.0	11.0