灰关联分析在电容型设备绝缘故障诊断中的应用初探

• 作者: 律方成 李和明 王楠
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 电容型设备 故障诊断 在线监测 灰关联分析 介质损耗因素
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 32-35
• 页数: 4页
• 分类号: TM835
• 字数: 4497字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2003.05.011

摘要

在线监测电容型设备绝缘所获得的tanδ值是波动的,这与环境温湿度、电压等外界因素的影响有关.笔者分析了这些因素对tanδ的影响后,引入了灰关联分析来量化tanδ序列变化与各因素序列变化的接近性,并通过对灰关联度排序实现故障诊断,实例分析验证了方法的有效性.最后,对灰关联分析在电容型设备故障诊断中的应用提出了一些建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王楠		42	1104	18.0	33.0
2	律方成		266	4998	37.0	55.0
3	李和明		231	6023	39.0	65.0