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摘要:
对在450 ℃条件下进行1 h普通烧结制得的纳米GaP块体(~51 nm)的相对介电常数(εr)、介电损耗(tgδ)与频率(f)、温度(T)的关系进行了研究. 测量结果表明: 烧结温度对纳米GaP块体的相对介电常数和介电损耗具有显著的影响; 几种介电特性和测量频率、温度关系曲线的特征符合由德拜介电极化理论进行分析得出的结论. 在介电特性温度谱图上出现极值, 表明在外电场作用下纳米GaP块体存在界面极化、转向极化和松弛极化等几种主要极化机制; 同时, 介电特性温度谱图上附加峰的出现预示着纳米GaP块体存在某种复合缺陷.
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文献信息
篇名 纳米GaP材料的介电特性
来源期刊 稀有金属 学科 物理学
关键词 纳米 GaP 相对介电常数 介电损耗
年,卷(期) 2003,(6) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 688-691
页数 4页 分类号 O472.4
字数 2979字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-7076.2003.06.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 崔得良 山东大学晶体材料研究所 44 286 9.0 13.0
2 张兆春 上海大学材料科学与工程学院 21 43 4.0 5.0
3 邹陆军 上海大学材料科学与工程学院 4 19 3.0 4.0
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纳米
GaP
相对介电常数
介电损耗
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