电磁屏蔽门的广义屏蔽设计模型

• 作者: 焦建君 田锦 邱扬 陈洪涛
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁兼容 屏蔽效能 转移阻抗
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 页码范围: 630-633
• 页数: 4页
• 分类号: TN03
• 字数: 2968字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2003.05.014

摘要

依据孔缝耦合机理和导电衬垫转移阻抗理论,建立了适用于不同类型屏蔽门的广义屏蔽设计模型,并以机柜为研究对象,对衬垫类型、层数等因素进行了分析,得到了屏蔽效能的计算值.通过机柜屏效测试,验证了设计模型和分析的正确性,得出了一些有工程参考价值的结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱扬	西安电子科技大学机电工程学院	65	461	12.0	19.0
2	田锦	西安电子科技大学机电工程学院	41	301	11.0	15.0
3	焦建君	西安电子科技大学机电工程学院	4	33	3.0	4.0
4	陈洪涛	西安电子科技大学机电工程学院	1	14	1.0	1.0