Nucleus24型人工耳蜗植入后的电极有效性

• 作者: 杨伟炎 郗昕 韩东一 黄德亮
• 来源期刊: 军医进修学院学报
• 学科: 医学
• 关键词: 耳蜗植入 电极 电阻抗
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 214-216
• 页数: 3页
• 分类号: R764.43
• 字数: 2760字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-1139.2003.03.021

摘要

目的:随访耳蜗植入后出现蜗外电极或坏损电极的情况,评价人工耳蜗植入后电极的有效性.方法:1998 年 6 月至 2002 年 8 月 53 例Nucleus CI24M型耳蜗植入者,在术中及术后映射调图时进行电极阻抗测试,确定有无电极坏损及其坏损时间.开机时拍摄耳蜗位X线平片,确定电极是否完全植入.分析手术过程和术者经验对电极有效性的影响.结果:电极出现坏损的比例为13.2%,电极在术中插拔两次以上而造成电极坏损的危险度为0.4656.4 年累积生存率达96.2%.不完全植入的比例为15.1%,其中又以耳蜗形态异常者居多(7/11).结论:Nucleus CI24M型植入体在开机 1 ～ 4 年内的可靠性较高.电极序列在术中插拔两次以上,是导致电极坏损的主要原因.患者耳蜗的纤维化、畸形以及术者经验等因素可能导致电极不完全插入.