无镁诱导的反复惊厥样放电对体外培养发育中神经元损伤的研究

• 作者: 吴希如 姜玉武 曹海燕 薄涛
• 来源期刊: 中华儿科杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 神经元 发作 大脑皮层
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 癫癎研究
• 页码范围: 25-28
• 页数: 4页
• 分类号: R74
• 字数: 3041字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3760/j.issn:0578-1310.2003.01.009

摘要

目的研究无镁处理诱导反复惊厥样放电对体外培养的发育中神经元造成的损伤.方法培养的胚胎鼠大脑皮层神经元为研究对象,应用锥虫蓝染色、乳酸脱氢酶(LDH)活浓度测定、流式细胞计数、噻唑蓝(MTT)代谢率测定,观察神经元坏死、凋亡以及功能损伤.结果 (1)体外培养不同阶段(6、12、17 d)神经元无镁处理后不同时间(6、24、72 h),存活神经元数目较对照组略减少,LDH活浓度较对照组略升高,但差异均无显著性(P均>0.05).(2) 体外培养不同阶段无镁处理后各时间点神经元凋亡较对照组略增加,但差异无显著性(P＞0.05).(3) 体外培养6 d,无镁处理后6 h,MTT代谢率较对照组降低(P＜0.05),为对照组的86.4%;体外培养12、17 d,于无镁处理后24 h,较对照组降低(P<0.05),分别为对照组的78.7%、70.9%.结论无镁处理诱导的反复惊厥样放电引起的发育中神经元损伤主要是功能损伤.发育早期的神经元损伤发生早,但程度轻;发育相对成熟的神经元损伤发生晚,但程度重.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜玉武	北京大学第一医院儿科	162	957	17.0	22.0
2	吴希如	北京大学第一医院儿科	177	1145	17.0	24.0
3	薄涛	北京大学第一医院儿科	23	188	8.0	12.0
4	曹海燕	北京大学第一医院儿科	12	74	5.0	8.0