AS169微波开关电路的失效原因分析

• 作者: 李萍 来萍 郑廷圭
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 微波开关电路 失效分析 静电损伤
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 可靠性与分析
• 页码范围: 51-52
• 页数: 2页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.08.023

摘要

本文介绍了对AS169型微波开关电路进行的失效分析.采用了直流测试、射频测试、样品解剖、芯片观察、电路分析以及实验验证等一系列技术手段,成功地确定了样品的失效原因是在装配和测试阶段因静电放电(ESD)而导致电路损伤和失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	来萍	中国赛宝实验室可靠性研究分析中心	3	3	1.0	1.0
2	李萍	中国赛宝实验室可靠性研究分析中心	1	1	1.0	1.0
3	郑廷圭	中国赛宝实验室可靠性研究分析中心	1	1	1.0	1.0