单片机受电磁辐射时的灵敏度

• 作者: 杨蓉 谢泽元
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 电磁辐射 灵敏度 电路结构
• 年，卷（期）: zggcwlyjykjnb_2003,（1）
• 页码范围: 316-317
• 页数: 2页
• 分类号: TP368.1

摘要

现代电子电路受到诸如HEMP、UWB-EMP、HPM和SGEMP辐射时，轻则引起电路的瞬时扰动，严重时导致系统功能完全失效。本文研究了同一单片机电路在HEMP、HPM和UWB-EMP辐射下的灵敏度。