失效物理

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 失效物理 破坏性物理分析 电子产品可靠性 环境试验 继电器线圈 信息产业 灵敏继电器 自动化学报 半导体激光器 失效分析
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 页码范围: 3-4
• 页数: 2页
• 分类号: TN606

摘要

【正】 0306943破坏性物理分析(DPA)技术促进国产电子元器件质量提高[刊]/徐爱斌//电子产品可靠性与环境试验.—2002,(5).—58～60(D)简要介绍了破坏性物理分析(DPA)技术的概况和发展,重点介绍了信息产业部电子第五研究所 DPA 实验室应用 DPA 技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子。参1