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摘要:
随着信息技术的迅速发展,对信息存储器提出了以下要求:高密度、高读写速度、低功耗和尽可能长的存储寿命.铁电薄膜材料在存储技术中的应用出现为这一切提供了可能.本文在分析铁电材料自发极化机制的基础上,建立了铁电薄膜的微观极化模型,通过计算铁电系统中的能量和有效电场,根据铁电极化的运动方程,模拟出铁电薄膜的电滞回线,为铁电薄膜材料的信息存储提供理论指导.
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文献信息
篇名 铁电存储器薄膜的计算机模拟
来源期刊 仪器仪表学报 学科 工学
关键词 铁电薄膜 自发极化 电滞回线 计算机模拟
年,卷(期) 2003,(z2) 所属期刊栏目 测量装置
研究方向 页码范围 231-232
页数 2页 分类号 TM22
字数 1203字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-3087.2003.z2.105
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘理天 清华大学微电子学研究所 230 1519 19.0 23.0
2 任天令 清华大学微电子学研究所 87 600 13.0 19.0
3 韦丹 清华大学材料科学与工程系 10 24 2.0 4.0
4 欧阳可青 清华大学微电子学研究所 4 21 2.0 4.0
传播情况
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2003(0)
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研究主题发展历程
节点文献
铁电薄膜
自发极化
电滞回线
计算机模拟
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
仪器仪表学报
月刊
0254-3087
11-2179/TH
大16开
北京市东城区北河沿大街79号
2-369
1980
chi
出版文献量(篇)
12507
总下载数(次)
27
总被引数(次)
146776
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