DiaShape系统中金刚石晶体纯净度定义的讨论

• 作者: 张世良 王明智 邢广忠
• 来源期刊: 金刚石与磨料磨具工程
• 学科: 工学
• 关键词: DiaShape系统 金刚石 晶体纯净度
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TQ164
• 字数: 1481字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-852X.2004.03.005

摘要

DiaShape系统是一种通过光学手段快速进行金刚石晶体品质检测的方法,目前国内外已有部分应用.本文实验选用国内两个厂家的金刚石产品,包含从SMD到RVD1的全部系列,通过对试样的光学图像采集,结合DiaShape系统中关于晶体形貌和光学性质的定义,测得试样的晶体纯净度,并按标准的方法,分别测出金刚石单晶的抗压强度.经过对比可以看出:随抗压强度的下降,晶体的纯净度有下降的趋势,但表现规律性不强;通过对理想晶体模型的计算,本研究找出了晶体纯净度在定义上的不足并提出了一种可能的解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张世良	燕山大学亚稳材料制备与科学重点实验室	6	31	3.0	5.0
2	王明智	燕山大学亚稳材料制备与科学重点实验室	82	602	12.0	22.0
3	邢广忠	燕山大学亚稳材料制备与科学重点实验室	31	154	7.0	10.0