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摘要:
基于纳米曝光要求和JSM-35CF型扫描电镜,设计了一组上下偏转器长度不一致的静电偏转器,使偏转灵敏度大大提高.采用二阶有限元法计算了八极静电偏转器的轴上场分布.高精度的场分布有利于高级像差.为了使系统的总体像差最小,结合具体电子光学系统,用最小二乘法对偏转器的激励强度、转角及其在系统中的位置进行优化,得到直至五级分量的像差.动态校正后,偏转场为80μm×80μm时,束斑分辨率约为3.2 am;偏转场大小为1 mm×1 mm时,束斑分辨率约为29.8 nm.结果表明,应用该组静电偏转器的电子光学系统的分辨率满足纳米曝光的要求.
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文献信息
篇名 DY-2001A型纳米级电子束曝光机中静电偏转器的设计
来源期刊 微细加工技术 学科 工学
关键词 静电偏转器 二阶有限元 优化 像差
年,卷(期) 2004,(1) 所属期刊栏目 电子束技术
研究方向 页码范围 23-27,46
页数 6页 分类号 TN305.7
字数 2866字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李艳秋 中国科学院电工研究所 35 388 12.0 18.0
2 顾文琪 中国科学院电工研究所 53 189 8.0 11.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
静电偏转器
二阶有限元
优化
像差
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微细加工技术
双月刊
1003-8213
43-1140/TN
大16开
湖南省长沙市
1983
chi
出版文献量(篇)
672
总下载数(次)
2
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