对辐射感应闭锁窗口现象的解释

• 作者: 杨怀民 胡建栋 许献国
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 核电子学 "三径"闭锁模型 计算机模拟 闭锁窗口 闭锁路径 CMOS器件
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 科研通讯
• 页码范围: 314-317
• 页数: 4页
• 分类号: TL8
• 字数: 3554字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2004.04.019

摘要

中、大规模CMOS器件受到瞬态辐射时,出现了闭锁单窗口、多窗口现象.为了获得闭锁窗口的出现原因,借助对窗口现象的有关参考文献的研究,利用计算机电路模拟软件,分析了CMOS器件多个闭锁路径之间的相互作用.在此基础上,提出了解释窗口现象的"三径"闭锁模型.应指出的是,该闭锁模型还需要试验上的进一步验证与支持.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许献国	中国工程物理研究院电子工程研究所	15	42	4.0	5.0
5	杨怀民	中国工程物理研究院电子工程研究所	5	35	4.0	5.0
6	胡建栋	北京邮电大学电信学院	1	2	1.0	1.0