暗室处理对射线底片质量的影响

• 作者: 张文杰
• 来源期刊: 无损探伤
• 学科: 工学
• 关键词: 射线底片 暗室处理 缺陷
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 质量管理
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 3004字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4423.2004.02.012

摘要

通过对暗室处理过程中各个环节的控制,降低射线底片缺陷率提高射线底片质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张文杰		8	16	3.0	3.0