基于光电响应模型的CCD像素响应不均匀性校正方法

• 作者: 严军 陈迎娟
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: CCD 不均匀性 暗电流 光电响应 校正算法
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 页码范围: 20-25
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 3256字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7202.2004.06.005

摘要

从理论上分析了CCD暗电流和光电响应不均匀性产生的原因,根据光电响应模型提出了CCD像素光电响应不均匀性的校正方法,推导出了像素光电响应不均匀性的校正系数的计算方法,并给出了校正性能评价方法.针对实际校正中干扰光的影响,提出了采用变波长去除干扰方法,用以对校正方法进一步修正和加强校正的稳定性.研究表明,能量和噪声的变化对提出的校正方法影响小,校正过程不受信号分布形式的影响,校正量对信号能量变化具有自适应性特性.仿真和实验结果验证了校正方法和校正系数算法的正确性和可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严军	上海大学通信与信息工程学院	37	142	7.0	10.0
2	陈迎娟	上海大学通信与信息工程学院	6	152	5.0	6.0