HALT试验高效率温度剖面图的建立

• 作者: 王考 袁杰红 褚卫华 陈循
• 来源期刊: 宇航学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高加速寿命试验 热循环试验温度剖面 非线性有限元分析 热疲劳寿命 焊点可靠性
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 195-200
• 页数: 6页
• 分类号: TN602
• 字数: 5147字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1328.2004.02.015

摘要

HALT是一项崭新的可靠性试验技术,具体实施还缺乏系统的理论指导.以在电子设备可靠性中起重要作用的焊点为研究对象,采用非线性有限元方法,分析了有引脚PQFP和无引脚EBGA两类典型器件的焊点在热循环载荷作用下的应力应变特点,研究了热循环试验温度剖面参数包括高低温端点温度、高低温保持时间、温变速率对这两种典型焊点的弹性应变范围、塑性应变累积、疲劳寿命和试验效率的影响,归纳了电子设备HALT可靠性试验优化温度剖面图的建立方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈循	国防科技大学机电工程与自动化学院机电工程研究所	88	1849	26.0	40.0
2	袁杰红	国防科技大学机电工程与自动化学院机电工程研究所	34	227	9.0	14.0
3	王考	国防科技大学机电工程与自动化学院机电工程研究所	13	81	6.0	8.0
4	褚卫华	国防科技大学机电工程与自动化学院机电工程研究所	8	143	7.0	8.0