原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
从SOC技术的基本概念和设计流程出发,介绍了SOC设计的工艺实现和性能测试等方面的技术挑战.同时展望了SOC技术的发展趋势,阐述了SiP技术与SOC技术的相关关系及SIP的技术优势.
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文献信息
篇名 SOC系统设计技术发展与挑战
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 系统级芯片 SiP IP模块 专用集成电路
年,卷(期) 2004,(2) 所属期刊栏目 国外可靠性与环境试验技术
研究方向 页码范围 55-59
页数 5页 分类号 TN47
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2004.02.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 贾新章 西安电子科技大学微电子研究所 63 572 14.0 20.0
2 焦慧芳 西安电子科技大学微电子研究所 15 73 5.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
系统级芯片
SiP
IP模块
专用集成电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
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总被引数(次)
9369
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