PIN二极管少子寿命测试方法

• 作者: 崔国庆 王建华 秦明 黄庆安
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: PIN二极管 少子寿命 开关时间 连续性方程
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 236-240,231
• 页数: 6页
• 分类号: TN432
• 字数: 3855字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2004.02.006

摘要

少子寿命是PIN二极管的重要参数.对二极管的正向导通压降和开关时间有重要影响.本文介绍了常用的测量低掺杂区少子寿命的方法,包括阶越反向恢复法、线性反向恢复法、储存电荷法、开路电压衰减法(OCVD)和射频测试法,并指出了各种方法的优点和不足.重点介绍了阶越反向恢复法和线性反向恢复法,对实际的测试过程具有一定的指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建华	合肥工业大学理学院	12	110	6.0	10.0
2	崔国庆	合肥工业大学理学院	1	9	1.0	1.0