FPGA设计及多片FPGA进行ASIC设计验证的探讨研究

• 作者: 黄可望
• 来源期刊: 微型电脑应用
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编辑门阵列 专用集成电路 验证
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 21-23
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 2908字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-757X.2004.12.007

摘要

在ASIC设计中,校验是一个非常重要的部分,一般先要进行FPGA验证.FPGA验征有一整套严格的流程;随着ASIC设计越来越庞大、越来越复杂,单片FPGA已不能满足设计验证要求,多片FPGA验证应运而生.多片FPGA验证还处于起步阶段,其验证方法和工具有很大的研究和发展空间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄可望	江南大学信息工程学院	4	23	2.0	4.0