SOLT校准法在MMIC去嵌入问题中的应用

• 作者: 吕昕 应子罡 李拂晓 高建峰 高本庆
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 关键词: 校准 去嵌入 微波单片集成电路 电感
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 第六部分计量、校准、标准与误差分析
• 页码范围: 549-552
• 页数: 4页
• 字数: 1861字
• 语种: 中文

摘要

单片微波集成电路(MMIC)在当今电子业的巨大推动下得到迅速的发展,其中器件测试方法的准确度直接影响到模型库的建立,并进一步关系到产品的成本、周期和监测等问题.传统的MMIC去嵌入方法是基于等效电路模型进行网络参数剥离,随着新的化合物材料的应用使器件的工作频率不断提高,这时传统方法会带来很大误差.本文引入了SOLT校准方法利用误差网络来实现去嵌入,并给出测试方法的步骤,流片试验结果分别同三维全波电磁场仿真比较,证明本文的校准方法更具准确性和实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕昕	北京理工大学信息科学技术学院	58	285	10.0	14.0
2	高本庆	北京理工大学信息科学技术学院	85	788	15.0	23.0
3	高建峰		23	98	7.0	9.0
4	李拂晓		60	352	10.0	14.0
5	应子罡	北京理工大学信息科学技术学院	4	30	3.0	4.0