光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度

• 作者: 何均章 关有光 周殿华 苏毅 高学燕
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学技术与仪器 光学测量 光斑矩参量 测量不确定度 激光光斑分析仪 CCD
• 年，卷（期）: 2004,（10）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 1411-1416
• 页数: 6页
• 分类号: TH74
• 字数: 4695字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2004.10.024

摘要

为计算和评估光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度,以光斑矩参量积分表达式为出发点,推导了零阶近似下光斑矩参量的离散表达式,初步分析了光强分布数据中单元位置及探测光功率的测量不确定度.在此基础上,根据不确定度传递律,推导了阵列测试法下光斑矩参量测量不确定度的一般表达式.进一步得到了数种常用简化条件下的矩参量不确定度表达式,并进行了相应的分析.由此建立了光斑矩参量计算及其不确定度评定的一套完整方法.利用简化公式,对自行研制的激光光斑分析仪和通用的CCD面阵探测器的光斑矩参量测量不确定度进行了分析,给出了计算表达式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高学燕	中国工程物理研究院应用电子学研究所	15	87	7.0	8.0
2	周殿华	中国工程物理研究院应用电子学研究所	3	38	3.0	3.0
3	关有光	中国工程物理研究院应用电子学研究所	14	94	7.0	9.0
4	苏毅	中国工程物理研究院应用电子学研究所	30	322	11.0	16.0
5	何均章	中国工程物理研究院应用电子学研究所	6	32	4.0	5.0