电子产品热电耦法温升测试的不确定度评定

• 作者: 钟继
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子产品 热电耦 温升 测量不确定度
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 计量与测试技术
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN606
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.03.007

摘要

对电子产品热电耦法温升测试的测量不确定度进行了分析和评定,为ISO/IEC 17025体系实验室检测人员了解和掌握不确定度评定的具体方法提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟继		13	18	3.0	4.0