用遗传算法优化测试通路结构设计

• 作者: 王英翔 黄维康
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 嵌入核 测试通路结构 遗传算法
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 电子设计自动化
• 页码范围: 348-354
• 页数: 7页
• 分类号: TN431.2
• 字数: 5076字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-9775.2004.03.016

摘要

嵌入核测试通路问题是片上系统设计中的重要问题 .由于嵌入核与芯片的输入/输出管脚没有直接通路,因此需要设计专门的测试通路结构对它们进行测试,以减少测试时间,降低测试成本 .提出一种基于遗传算法的优化算法来设计测试通路结构,并选取了两个假定的、比较复杂的片上系统作为例子 .实验结果表明,文中算法搜索到全局最优解(或近似全局最优解)的能力优于现有的整数线性规划方法.