工业CT重建图像中边缘梯度效应引起的高频伪影

• 作者: 刘以农 康克军 王烈波
• 来源期刊: 清华大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 工业CT 高频伪影 边缘梯度效应 密度锐变
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 工程物理
• 页码范围: 1585-1587
• 页数: 3页
• 分类号: TL81
• 字数: 1896字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0054.2004.12.002

摘要

为研究伪影对大型工件内部密度锐变区域高对比度微小缺陷检测的影响,从一个简单的轴对称断层模型出发,计算了边缘梯度效应引起的通过物体内部不同材料交界面处的射束的投影偏差.并研究采样相位的影响,探讨了由此偏差引起的重建图像中的高频伪影的表现形式.计算结果表明,高频伪影具有相当的强度,且具有与缺陷相似的表现形式,从而影响工业CT的检测能力.结合点扩散过程,高频伪影强度的计算为评估工业CT边缘处的缺陷检测能力提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康克军	清华大学工程物理系	79	661	12.0	23.0
2	刘以农	清华大学工程物理系	39	271	9.0	14.0
3	王烈波	清华大学工程物理系	2	7	2.0	2.0