高精度光谱辐射标准探测器的温度特性研究

• 作者: 乔延利 吴浩宇 李双 李照洲 王乐意 郑小兵
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学测量 高精度辐射定标 硅陷阱探测器 滤光片辐射计 精密温控
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 401-407
• 页数: 7页
• 分类号: TN206
• 字数: 5291字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2004.03.024

摘要

高精度辐射定标技术是现代空间遥感的主要支撑技术之一.基于滤光片辐射计的新型光辐射标准探测器在野外、机载和星上高精度辐射定标中具有广阔的应用前景.温度特性是工程应用中影响标准探测器绝对精度和稳定性的一项关键因素.在20～60 ℃的宽温度范围内,对基于硅陷阱探测器的滤光片辐射计温度特性进行了系统测试和定量研究,在所获取的完备的实验数据基础上设计并研制了一套精密温控系统.实验结果显示在加入精密温控后,滤光片辐射计的温度系数降低了约一个数量级,从而有利于在不同温度工作平台上保持标准探测器的高精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	乔延利	中国科学院安徽光机所遥感研究室	125	1644	22.0	35.0
2	吴浩宇	中国科学院安徽光机所遥感研究室	27	370	10.0	19.0
3	郑小兵	中国科学院安徽光机所遥感研究室	109	932	18.0	26.0
4	李照洲	中国科学院安徽光机所遥感研究室	7	107	5.0	7.0
5	李双	中国科学院安徽光机所遥感研究室	34	318	12.0	17.0
6	王乐意	中国科学院安徽光机所遥感研究室	12	498	10.0	12.0