基于制造成本与质量损失的并行公差设计

• 作者: 钟艳如 黄美发
• 来源期刊: 现代制造工程
• 学科: 工学
• 关键词: 质量损失 并行公差 优化设计
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 仪器仪表与检测
• 页码范围: 68-70
• 页数: 3页
• 分类号: TH124
• 字数: 2874字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-3133.2004.05.029

摘要

研究产品质量损失与产品尺寸公差的关系,提出具有多个相关装配尺寸产品的质量损失,并把它表示成工序公差的函数.利用成本-公差函数和产品的质量损失函数,给出基于产品最低制造成本和多个相关装配尺寸产品质量损失的并行公差设计优化模型,实现公差的并行设计,最后通过工程实例验证所提出的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟艳如	桂林电子工业学院机电与交通工程系	96	668	13.0	21.0
2	黄美发	桂林电子工业学院机电与交通工程系	178	1094	15.0	23.0