宇航元器件制造成熟度验证

• 作者: 夏泓 张红旗 张莹 朱恒静
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 表征 鉴定 新技术 成熟技术 验证
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 6-10
• 页数: 5页
• 分类号: V443|TB114.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2014.01.002

摘要

对国外新技术元器件验证、评估及鉴定要求进行了分析,介绍了NASA新技术元器件的验证现状,提出了宇航元器件制造成熟度验证的建议,可供后续宇航元器件应用验证工作借鉴.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张莹		6	9	2.0	2.0
2	张红旗		17	24	3.0	3.0
3	朱恒静		18	57	4.0	6.0
4	夏泓		7	51	4.0	7.0