宇航元器件结构分析技术研究

• 作者: 夏泓 张磊 龚欣
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 结构分析 可靠性评价 单元分解 要素识别
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 电子元件与可靠性
• 页码范围: 53-57
• 分类号: TB114.39
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.01.013

摘要

宇航元器件的结构分析是对应用于宇航领域的元器件进行可靠性评价的重要技术之一,其目的是获锝元器件的设计、工艺和材料等满足评价要求和相关项目运行要求的能力的信息,避免不适当结构的元器件用于宇航.对基于结构单元分解和要素识别的宇航元器件结构分析技术进行了探讨,提出了结构分析的技术流程和工作流程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚欣		6	29	3.0	5.0
2	夏泓		7	51	4.0	7.0
3	张磊		13	18	2.0	3.0