宇航用塑封器件质量保证方案研究

• 作者: 孔泽斌 陶帅
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 塑封器件 质量保证 C型扫描声学显微分析法 “爆米花”效应
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 53-58
• 页数: 6页
• 分类号: V443|TB114.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2016.06.012

摘要

随着技术的进步和国外对高等级器件的禁运,低等级塑封器件在宇航产品中的使用比例逐年地增加.由于低等级塑封器件不是为宇航用产品所设计的,故其在宇航产品中运用时存在诸如密封、分层、吸湿和挥发等问题.低等级塑封器件在应用于宇航产品之前必须对其进行质量保证.制定相应的质量保证方案以确保所有的、应用于宇航产品上的元器件在额定条件下的失效率达到10-9/h的水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孔泽斌		7	2	1.0	1.0
2	陶帅		5	6	2.0	2.0