原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
介绍了输出起振于寄生频率、 激励电平过大引起的输出频率跳变和晶片与导电胶粘接部位存在裂纹这3种宇航用晶体谐振器的主要失效模式,并对每一种失效模式的失效机理进行了分析.为了保证宇航用晶体谐振器的可靠性,针对每一种失效模式和机理,提出了有针对性的质量保证控制措施和应用建议.
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文献信息
篇名 宇航用晶体谐振器失效模式及质量保证研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 宇航用 晶体谐振器 失效模式 质量保证 措施 建议
年,卷(期) 2018,(3) 所属期刊栏目 可靠性物理与失效分析技术
研究方向 页码范围 19-23
页数 5页 分类号 TN752.2
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2018.03.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 韩宝妮 4 2 1.0 1.0
2 文平 4 1 1.0 1.0
3 董作典 5 2 1.0 1.0
4 李海岸 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
宇航用
晶体谐振器
失效模式
质量保证
措施
建议
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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