原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
在分析国内外通用规范现状的基础上,针对国内元器件生产现状以及宇航用户的需求,分析并提出了我国宇航用元器件通用规范的设计思路:包括与现有国军标的关系、质量等级设定、设计与应用说明、认证以及用户方控制要求等顶层考虑,以及鉴定与维持、生产过程控制等具体的要求;并以单片半导体集成电路为例,对通用规范的设计思路进行了详细的阐述.
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文献信息
篇名 宇航用元器件通用规范的设计思路
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 通用规范 质量等级 设计思路
年,卷(期) 2012,(2) 所属期刊栏目 标准制定与研究
研究方向 页码范围 38-42
页数 分类号 T-65
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.02.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱恒静 18 57 4.0 6.0
2 夏泓 7 51 4.0 7.0
3 宁永成 11 30 3.0 5.0
4 李海燕 2 7 2.0 2.0
5 余振醒 1 3 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
通用规范
质量等级
设计思路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2841
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0
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