覆盖全过程的宇航元器件认定技术流程研究

• 作者: 张磊 张莹 肖波 苏妤
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 宇航元器件 全过程要素 认定技术 流程
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 18-22
• 页数: 5页
• 分类号: V443|TB114.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2014.01.004

摘要

介绍了一种覆盖需求-研制-应用全过程要素的宇航元器件认定技术流程,首次将用户需求、生产厂研制过程和元器件评估,以及应用验证等全过程要素集中地体现在认定技术流程中.与以往元器件质量保证多关注元器件试验不同,此技术流程将关注点前后延伸:向前延伸到生产厂元器件研制;向后延伸至模拟宇航型号使用条件进行的应用验证和指导型号设计师选用.可为元器件在宇航工程的应用提供翔实的数据支撑和参考依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏妤		6	11	1.0	3.0
2	张莹		6	9	2.0	2.0
3	肖波		6	4	1.0	1.0
4	张磊		13	18	2.0	3.0