适用于测量薄片材料复介电常数的改进TE01n腔法

• 作者: 余剑平 徐得名 陈明妍
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 关键词: 薄片材料 复介电常数 TE01n腔
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 46-50,40
• 页数: 6页
• 字数: 2772字
• 语种: 中文

摘要

本文提出一种适用于测量薄片材料复介电常数的改进TE01n谐振腔法.本方法将待测样品从短路活塞处抬高,即在待测薄片样品下面垫上已知复介电常数材料,以提高测量系统的灵敏度;如有必要也可以在待测薄片样品的上面压上一块已知复介电常数材料,提高样品材料的平整度,以减少空气隙带来的误差.文章推导了TE01n腔测量多层介质的理论计算公式,只要知道垫片和压块介质材料的复介电常数,通过实验测量和软件计算,就可以求得中间待测薄片的复介电常数.运用这种改进方案,我们对几种样品进行了测量,取得了较满意的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐得名	上海大学通信与信息工程学院	40	394	11.0	18.0
2	余剑平	上海大学通信与信息工程学院	2	14	2.0	2.0
3	陈明妍	上海大学通信与信息工程学院	1	3	1.0	1.0