薄膜材料复介电常数与复磁导率测试研究

• 作者: 何华辉 张秀成 江建军 聂彦
• 来源期刊: 华中科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 复介电常数 复磁导率 薄膜材料 矩形谐振腔
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 90-92
• 页数: 3页
• 分类号: TM276
• 字数: 2590字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2004.04.031

摘要

采用谐振腔法对薄膜材料复介电常数和复磁导率进行了测试研究.依据腔内电磁场的特性及薄膜材料体积小的特点,采取了较大的模指数、高品质因数、小耦合系数等措施,设计了在2 GHz频率下工作模式为TE105的矩形谐振腔.使用Agilent 8722ES网络分析仪进行扫频反射测量,由放置试样前后腔的谐振频率和品质因数以及试样的体积等计算出薄膜材料复介电常数和复磁导率,该方法操作简便,准确性较高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江建军	华中科技大学电子科学与技术系	105	993	18.0	25.0
2	何华辉	华中科技大学电子科学与技术系	110	1350	20.0	29.0
3	聂彦	华中科技大学电子科学与技术系	38	401	12.0	19.0
4	张秀成	华中科技大学电子科学与技术系	23	363	11.0	18.0