问题产品不断出现急需重新进行可靠性评估

• 作者: 小谷卓也 河合基伸
• 来源期刊: 电子设计应用
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 所属期刊栏目: 日经电子专栏
• 页码范围: 22-30
• 页数: 5页
• 字数: 5611字
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	小谷卓也		10	4	1.0	2.0
2	河合基伸		7	0	0.0	0.0