Duane模型在确定装备可靠性门限值中的应用

• 作者: 任建军 常文兵 张恒喜 杨云
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 门限值 成熟期 增长率 Duane模型 层次分析法 模糊综合评判
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 1148-1150,1154
• 页数: 4页
• 分类号: TP114.3
• 字数: 4428字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2004.08.037

摘要

将Duane模型应用于装备可靠性门限值的确定.介绍了装备可靠性门限值的概念和现行的确定方法,阐述了Duane模型的适用条件和数学形式,分析了其在确定装备可靠性门限值方面的适用性.以军用飞机为例确定了装备的成熟期,在充分考虑影响装备外场可靠性增长因素的基础上,利用层次分析法和模糊综合评判法相结合的方法确定了Duane模型中的增长率.最后利用Duane模型确定了装备可靠性的门限值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张恒喜		132	1824	22.0	35.0
2	任建军		7	46	3.0	6.0
3	常文兵		44	235	8.0	14.0