等离子体显示屏"万年残像"现象的研究

• 作者: 姜有燕 屠彦 汤勇明
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 残像 预防措施 测试实验
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 934-936,941
• 页数: 4页
• 分类号: TN141.5
• 字数: 2735字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2005.04.062

摘要

介绍了等离子显示器中两种类型的残像,对比分析了目前厂家预防残像的几种措施的优缺点.残像的产生与画面颜色,图像格式,亮度和对比度等有关,且可通过像素移动、色相位差互补和屏幕刷等方法预防和消除.提出了残像初步测试的方法,通过在 PDP屏上显示易产生残像的三组典型画面及其对比画面,来分析残像产生的可能原因以及相应的处理方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	屠彦	东南大学电子工程系	87	325	8.0	13.0
2	汤勇明	东南大学电子工程系	57	263	9.0	13.0
3	姜有燕	东南大学电子工程系	6	31	4.0	5.0