ICP-AES法测定出口工业硅中11种杂质元素

• 作者: 欧阳昌俊 胡晓静 赵恒英 黄大亮
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 化学
• 关键词: ICP-AES法 金属硅 多元素
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 研究报告与简报
• 页码范围: 61-65
• 页数: 5页
• 分类号: O657.31
• 字数: 2667字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0720.2005.11.018

摘要

利用ICP-AES分析技术,对试样溶解方法,元素分析谱线,共存元素干扰,仪器分析参数,无机酸介质影响等因素进行了研究,确定了最佳工作条件,建立了可同时测定出口金属硅中11种杂质元素的简单、快速和适用的分析方法,结果表明,该方法线性范围宽,检出限低,准确性高,操作步骤简单,11个元素测定回收率在85%～105%之间,相对标准偏差在1.9%～8.1%之间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡晓静		39	214	9.0	11.0
2	赵恒英		8	32	3.0	5.0
3	欧阳昌俊		10	71	5.0	8.0
4	黄大亮		9	75	6.0	8.0