132 I半衰期的测量

• 作者: 丁有钱 崔安智 张生栋 杨磊 毛国淑
• 来源期刊: 核化学与放射化学
• 学科: 工学
• 关键词: 132I 半衰期 测量
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 216-219
• 页数: 4页
• 分类号: TL241
• 字数: 3092字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-9950.2005.04.005

摘要

采用位置接力法和HPGe γ谱仪跟踪测量132I的半衰期.位置之间的交替测量避免了效率刻度,设定每次跟踪测量的真时间相等,简化数据处理,并用平移和迭代两种方法进行数据处理.实验测得132I的半衰期为(2.283±0.002)h,经检验数据可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁有钱	中国原子能科学研究院放射化学研究所	46	84	4.0	7.0
2	张生栋	中国原子能科学研究院放射化学研究所	72	145	5.0	9.0
3	崔安智	中国原子能科学研究院放射化学研究所	17	76	5.0	8.0
4	毛国淑	中国原子能科学研究院放射化学研究所	14	15	3.0	3.0
5	杨磊	中国原子能科学研究院放射化学研究所	18	53	3.0	7.0