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摘要:
本文利用正电子湮没技术(PAT)对不同密度的MgB2样品分别进行了测定,结果发现正电子在MgB2中自由态的湮没时间(本征寿命τ1)和在捕获态的湮没时间(缺陷寿命τ2)比其他高温超导体都明显要高,这反映了MgB2的体电子浓度相对于其它超导体要低,可能归因于MgB2超导材料本身的晶体结构和化学组成,MgB2超导材料的正电子寿命不仅与晶体的结构缺陷,而且与样品的密度或孔隙度有关.
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文献信息
篇名 MgB2超导体的正电子湮没研究
来源期刊 低温物理学报 学科 物理学
关键词 MgB2超导体 正电子湮没 结构缺陷
年,卷(期) 2005,(z1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 908-913
页数 6页 分类号 O51
字数 2903字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-3258.2005.z1.099
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 常方高 河南师范大学物理与信息工程学院 30 80 5.0 7.0
2 路庆凤 河南师范大学物理与信息工程学院 65 175 9.0 11.0
3 李喜贵 河南师范大学物理与信息工程学院 41 196 8.0 11.0
4 李涛 河南师范大学物理与信息工程学院 10 28 3.0 5.0
5 葛永霞 河南师范大学物理与信息工程学院 5 10 3.0 3.0
传播情况
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2005(0)
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研究主题发展历程
节点文献
MgB2超导体
正电子湮没
结构缺陷
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
低温物理学报
双月刊
1000-3258
34-1053/O4
大16开
安徽省合肥市金寨路96号
26-136
1979
chi
出版文献量(篇)
1833
总下载数(次)
3
总被引数(次)
4241
论文1v1指导