涂层失效过程电化学阻抗谱的神经网络分析

• 作者: 宋诗哲 徐云海 高志明
• 来源期刊: 中国腐蚀与防护学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电化学阻抗谱(EIS) Kohonen神经网络 涂层失效
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 页码范围: 106-109
• 页数: 4页
• 分类号: TG174.4
• 字数: 2418字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-4537.2005.02.010

摘要

在涂层失效过程的研究中,对长期浸泡于电解质溶液中试片的电化学阻抗谱(EIS)进行分析,提出了利用Bode图幅频特性曲线斜率做为评价参数的方法.以幅频特性斜率曲线作为Kohonen神经网络的输入,将涂层失效过程自适应的分为5个连续子过程,并将学习后的网络用于涂层失效过程阻抗谱分析.结果表明不同类型涂层失效过程不同,可用建立的神经网络对涂层性能进行评价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋诗哲	天津大学材料学院	78	1254	19.0	30.0
5	高志明	天津大学材料学院	26	272	10.0	16.0
6	徐云海	天津大学材料学院	1	36	1.0	1.0