地籍管理系统中宗地图斑匹配方法研究

• 作者: 尹辉增
• 来源期刊: 四川测绘
• 学科: 地球科学
• 关键词: 地籍管理 宗地图斑 图斑叠加匹配 宗地统计
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 128-130,134
• 页数: 4页
• 分类号: P273
• 字数: 298字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5019.2005.03.009

摘要

地籍管理系统中利用图层叠加进行数据统计,为宗地审批、地类核定等业务提供审核依据.直接利用地籍调查的外业测量数据或数字化数据生成宗地图斑与计算机底图进行叠加匹配,由于测量误差的影响,造成宗地界址点的测量数据与计算机底图相关联的重合点数据不一致,会出现统计数据精确程度低,数据冗余大等问题.本文针对上述问题介绍了一种宗地图斑叠加匹配方法,使叠加前后的图斑的对应点能更好的吻合,有效的避免了地籍实体的多值性,提高了统计数据的精度,降低了冗余度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹辉增		14	50	4.0	6.0