金等离子体中类Ni和类Ga离子跃迁子阵强度比研究

• 作者: 张红 张继彦 杨向东 杨国洪 程新路
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 金等离子体 谱线强度比 等离子体诊断
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 149-152
• 页数: 4页
• 分类号: O536
• 字数: 2888字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2005.01.030

摘要

用Cowan的原子结构从头算程序和SOSA模型计算各阶电离的金离子的能级结构和跃迁过程,在简化的碰撞辐射模型下求解能级布居数方程,计算了给定密度、不同电子温度下的金等离子体的理论合成谱.研究了类Ni和类Ga离子之间的共振线的强度比随电子温度的变化规律,利用这一变化规律可以为等离子体诊断提供辅助的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张红	四川大学物理科学与技术学院	79	266	10.0	13.0
2	程新路	四川大学原子与分子物理研究所	174	597	12.0	14.0
3	杨向东	四川大学原子与分子物理研究所	278	1103	14.0	21.0
4	杨国洪	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	52	217	8.0	12.0
5	张继彦	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	31	169	7.0	12.0