CCD和DLP技术光学系统分辨率的现代测试技术研究

• 作者: 安志勇 李丽娟 杨成禹 杨瑞宁 石利霞
• 来源期刊: 中国计量学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学系统 分辨率 CCD技术 DLP技术
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 173-176
• 页数: 4页
• 分类号: TH741
• 字数: 1515字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1540.2005.03.001

摘要

提出了一种采用DLP光电图形自动生成技术、CCD摄像技术及计算机图像处理技术等现代技术对光学系统的分辨率进行测试的新方法.该方法可实现客观数字化测量.因此可消除目视检查方法的易疲劳、人为影响等现代技术因素大等诸多缺陷,使得检测准确度高、自动化程度高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	安志勇	长春理工大学光电工程学院	159	653	11.0	17.0
2	杨瑞宁	长春理工大学光电工程学院	13	90	5.0	9.0
3	李丽娟	长春理工大学光电工程学院	73	335	10.0	15.0
4	杨成禹	长春理工大学光电工程学院	23	61	4.0	6.0
5	石利霞	长春理工大学光电工程学院	21	53	5.0	6.0