利用EBSD技术分析银薄膜中的晶粒异常生长、孪晶及织构

• 作者: 孟利 崔凤娥 杨平 毛卫民 王玉峰
• 来源期刊: 中国体视学与图像分析
• 学科: 工学
• 关键词: 银薄膜 异常生长 孪晶 织构
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 225-228
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.23|O722
• 字数: 2081字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1482.2005.04.009

摘要

利用背散射电子衍射(EBSD)技术分析了银薄膜中出现的晶粒异常生长现象,确定了其与孪晶和织构的关系.结果表明,较强〈111〉织构形成时,孪晶面之一可平行于薄膜表面,频繁的孪生不明显改变较强的〈111〉织构,但可能造成出现六角锥体;初步分析认为,六角锥体是一对孪晶,表面是两个晶粒的六个{111}面;当制备或生长条件不能形成强〈111〉织构时,孪晶面不平行于薄膜表面,孪生后的取向继续偏离〈111〉.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛卫民	北京科技大学材料学系	351	4505	35.0	51.0
2	杨平	北京科技大学材料学系	165	1478	20.0	32.0
3	崔凤娥	北京科技大学材料学系	29	402	10.0	19.0
4	王玉峰	内蒙古科技大学电镜室	59	422	12.0	17.0
5	孟利	北京科技大学材料学系	38	249	9.0	14.0